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論文

Characterizing SRAM and FF soft error rates with measurement and simulation

橋本昌宜*; 小林和淑*; 古田潤*; 安部晋一郎; 渡辺幸信*

Integration, 69, p.161 - 179, 2019/11

https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2019.03.005

被引用回数：11 パーセンタイル：62.39(Computer Science, Hardware & Architecture)

宇宙線起因ソフトエラーは、信頼性が要求されるアプリケーションで深刻な問題となっている。デバイスの小型化・省電力化により、SRAMやフリップフロップ(FF: Flip-Flop)の放射線耐性が低下するため、より多くの製品でソフトエラー対策が要求されるようになると予想される。本論文では、地上環境下におけるSRAMとFFのソフトエラー率について、測定実験やシミュレーションによる研究成果を交えて議論するとともに特徴を述べる。